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馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上,進一步優化性能,增加了多項智能輔助功能,讓設備更易用,結果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
公司簡介


使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩定性、元素濃度、晶體結構,元素及物相等參數。這些信息對于預測產品在使用過程中的表現、優化其性能,從而實現高效制造至關重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線等設備的專業實驗室,完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務與優良的技術...
News
激光粒度分布儀是一種基于激光散射原理的高精度顆粒分析儀器,主要用于測量和分析顆粒的大小分布,廣泛應用于粉末冶金、陶瓷、化工、醫藥、食品、環保、納米材料等多個領域。其利用激光照射被測顆粒群,顆粒會使激光產生衍射和散射現象,散射光能的空間(角度)分布與顆粒大小直接相關。大顆粒散射光角度小、強度高,小顆粒散射光角度大、強度弱。通過測量散射光的角度分布和強度,結合Mie散射理論或Fraunhofer衍射模型,可反推出顆粒的粒徑分布。激光粒度分布儀廣泛應用于多個行業領域。以下是其具體應...
工業衍射儀是材料科學、工業生產及質量控制領域不可少的精密分析儀器,其核心功能是通過X射線與物質相互作用產生的衍射現象,解析材料的晶體結構、物相組成及微觀缺陷信息。該技術基于布拉格定律(2dsinθ=nλ),當單色X射線以特定角度θ照射晶體時,若滿足晶面間距d與波長λ的幾何關系,則會在特定方向產生衍射增強信號,形成特征衍射圖譜。工業衍射儀的安裝指南:一、安裝前準備1.場地選址要求空間:預留足夠操作與維護空間(通常主機尺寸約800×600×1200mm,還需前后左右各≥50cm操...
激光粒度分布儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒分析儀器,通過測量顆粒對激光的散射特性,反推顆粒的粒徑分布,廣泛應用于材料科學、制藥、化工、環境監測、食品加工等領域。其核心優勢在于非接觸式測量、寬檢測范圍(0.01μm-3000μm)、快速分析(數秒至數分鐘)及高重復性,是顆粒表征的關鍵工具。激光粒度分布儀的工作原理基于米氏散射理論(MieTheory)和夫瑯禾費衍射理論(FraunhoferDiffraction)。當激光束照射樣品時,顆粒會散射光線,散射光的角度和強度與顆粒...
粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理的高精度分析儀器,主要用于晶體物質的定性與定量分析、物相結構研究及材料性能表征。其核心原理是利用X射線照射樣品時,晶體中規則排列的原子使X射線發生衍射,形成特定角度的衍射峰,通過分析這些峰的位置、強度及分布,可獲取晶體的晶格參數、晶胞對稱性、原子排列方式等關鍵信息。粉末衍射儀由X射線發生器、測角儀、探測器及控制系統組成。X射線發生器產生高穩定性的X射線束,功率可達3kW,確保信號強度;測角儀采用θ/θ掃描或立式結構,角度精度高達0.0001°...
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